詳細摘要： BiasHAST高加速壽命偏壓MOSFET-HAST測試，HAST測試系統采用立式結構，便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環境條件，對半導體芯片施加偏置電壓，以模...
產品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-10 在線留言干燥設備 粉碎設備 混合設備 反應設備 過濾分離設備 過濾材料 滅菌設備 萃取設備 貯存設備 傳熱設備 鍋爐 塔設備 結晶設備 其它制藥設備
成都中冷低溫科技有限公司
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詳細摘要： BiasHAST高加速壽命偏壓MOSFET-HAST測試，HAST測試系統采用立式結構，便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環境條件，對半導體芯片施加偏置電壓，以模...
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詳細摘要： BHAST高加速老化測試箱，微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統。是一種用于評估微波器件在條件下的性能和可靠性的測試系統。該系統通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在...
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詳細摘要： HAST測試的失效機理 模擬老化壽命加速，HAST高加速壽命試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕度...
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詳細摘要： HAST高加速老化試驗箱，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕度、壓力的各種條...
產品型號：HAST-400所在地：成都市更新時間：2025-04-10 在線留言
詳細摘要： HAST半導體芯片立式偏壓老化測試系統，HAST測試系統采用立式結構，便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環境條件，對半導體芯片施加偏置電壓，以模擬芯片在長時間使用...
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詳細摘要： 微波器件高加速壽命 偏壓老化測試系統。是一種用于評估微波器件在條件下的性能和可靠性的測試系統。該系統通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在實際使用中可能遇到的高溫、...
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詳細摘要： HAST高加速壽命偏壓 老化測試系統，微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統。是一種用于評估微波器件在條件下的性能和可靠性的測試系統。該系統通過施加高加速偏壓，模擬...
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詳細摘要： BiasHAST偏壓老化測試系統，HAST測試系統采用立式結構，便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環境條件，對半導體芯片施加偏置電壓，以模擬芯片在長時間使用過程中...
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詳細摘要： 接觸式芯片高低溫沖擊測試設備三溫測試臺，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與傳統氣流...
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詳細摘要： zonglen 桌面型高低溫沖擊熱流儀，zonglen推出緊湊設計, 桌面型高低溫沖擊熱流儀ATC860, 溫度范圍-70℃ 至 +200℃, 氣流量 4-14...
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詳細摘要： HAST環境模擬老化壽命測試箱，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕度、壓力的...
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詳細摘要： 接觸式高低溫芯片測試機三溫測試臺，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與傳統氣流式高低...
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詳細摘要： HAST工業用高加速壽命老化試驗箱，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕度、壓...
產品型號：HAST-400所在地：成都市更新時間：2025-04-10 在線留言
詳細摘要： 接觸式三溫測試臺高低溫冷熱沖擊機，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與傳統氣流式高低...
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詳細摘要： 接觸式高低溫沖擊機冷熱臺溫度系統，ThermoTST ATC840是一臺精密的接觸式高低溫沖擊機，溫度范圍-45℃到+200℃，提供了很強的溫度轉換測試能力。
產品型號：ATC840所在地：成都市更新時間：2025-04-10 在線留言
詳細摘要： HAST半導體芯片立式偏壓老化測試系統，HAST測試系統采用立式結構，便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環境條件，對半導體芯片施加偏置電壓，以模擬芯片在長時間使用...
產品型號：所在地：成都市更新時間：2025-03-10 在線留言
詳細摘要： 微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統。是一種用于評估微波器件在條件下的性能和可靠性的測試系統。該系統通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在實際使用中可能遇到的高溫、高...
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詳細摘要： HAST測試機測試箱Burn-in Oven，HAST測試機高加速壽命試驗箱Burn-in system，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品...
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詳細摘要： zonglen接觸式高速低溫氣流沖擊試驗機，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與傳統...
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詳細摘要： 桌面式高低溫測試儀ATC840，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與傳統氣流式高低溫...
產品型號：所在地：成都市更新時間：2025-03-10 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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